1、
本文将从IC电路中获取大量的真实缺陷，系统、深入地研究IC缺陷的检测、缺陷的特征提取和分类、缺陷对电路信号完整性的影响以及缺陷对IC中位寿命的影响。
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高利用率的多处理机系统一般是交互式的，而且常要求具有无故障、实时、在线性能。
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