BIT is one important testability design of electronic systems. It's also one important way to test and insulate the failure in the electronic system or the internal equipment.

  • BIT(自检)是电子系统可测试性设计的重要组成部分,是电子系统或设备内部检测和隔离故障的重要手段。
  • 来源:互联网摘选更新时间:2026-07-01 15:45:17

  • 重点词汇
  • failure in…的失败;
  • it'sit is的缩写,it has的缩写;
  • andconj. 和;与;而且;于是;然后
  • designv.设计;制图;构思;计划;制定;制造;
  • equipmentn.设备;配备;
  • theart.这个;指已提到或易领会到的人或事物;指独一无二的、正常的或不言而喻的人或事物;用以泛指;与形容词连用,指事物或统称的人;用于姓氏的复数形式前,指家庭或夫妇;(指特定用途的事物)足够,恰好;每,一;当前的,本,此;(重读,表示所指的为知名或重要的人或事物)
  • insulatevt.使隔离,使孤立;使绝缘,使隔热;
  • testabilityn.易测性
  • 相关例句
1、

This paper presents the important action of the simulation fault injection in the testability design, and the important steps to complete the testability design using the simulation.

论述了仿真故障注入在测试性设计中的重要作用以及利用仿真进行测试性设计的几个重要环节。

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2、

According to the software function and implementation of the general-purpose ATS for missile weapon systems, the analysis and study of testability design is given.

针对导弹通用自动测试系统的功能与实现,对系统的软件部分进行可测试性设计分析研究。

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3、

Design for test is an important process in the chip design nowadays, testability design of wireless chip needs a much higher requirement of test technology.

可测试性设计是现代芯片设计中的关键环节,针对无线接入芯片的可测试性设计对测试技术有更高的要求。

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4、

Testability Design for Programmable Logic Arrays

可编程逻辑阵列的易测性设计

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5、

Air-to-Air Missile's Testability Design Based on BST

基于BST的空空导弹测试性设计

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6、

Ready testability design for logic circuits

逻辑电路易测性设计探讨

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7、

Testability Design of Wireless Chip Based on ATPG

基于ATPG的无线接入芯片的可测试性设计

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8、

Implement Testability Design on the Hardware

硬件模块可测试性设计的实现

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9、

Automatic Testability Design for Digital Circuits

数字电路可测试性的自动设计

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10、

Optimal Testability Design of Circuit Boards Based on JTAG

基于JTAG的电路板可测性设计分析技术

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11、

Ordering storage elements in single scan testability design

单链扫描可测性设计中存储元件的排序

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12、

Low Power Technology of BIST Testability Design

BIST可测性设计的低功耗技术

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13、

From the development of computer-aided design, the testability design technology of electronic equipments was analyzed.

电子装备测试性设计技术的分析,从CAD的发展入手。

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14、

The Method for Determining Testability Design Requirements

确定测试性设计要求的方法

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15、

Research and Develop IEEE 1149. 1 Testability Design

IEEE1149.1可测试性设计技术的研究与发展

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16、

Initial study of support testability design methods for complicated system: Fault equipment effect analysis and its application

复杂系统使用保障测试性设计方法初探&故障设备影响分析及其应用

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17、

A New Structure of Testability Design Using Partial Parallel Scan

部分并行扫描法可测性设计的一种新结构

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18、

Software testability measure is an essential part of software testability research.

软件易测性度量是软件易测性研究的重要内容。

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19、

Intelligent Design Technology for Testability of Complex Electronic Equipments

复杂电子装备智能测试性设计技术

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20、

Testability analysis is applied to computer-aided design and the test of digital systems.

可测性分析用于指导数字系统的计算机辅助测试与设计。

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