采用LCRMETER4225型仪器测量其电性能,测得的介电性能在测试温度范围内具有弥散性相变的特性,这与四方晶系的晶体结构是相符的。
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本文测量了含有微量Gd~(3+)杂质并具有四角对称结构的天然锆石单晶的电子顺磁共振谱。
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随Ar工作压强的升高,薄膜的e/a值逐渐增大,薄膜的相变温度逐渐升高,室温下可以获得具有四方结构马氏体相的Ni-Mn-Ga薄膜。
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发现在较高温度下沉积时,富Ge薄膜往往伴随四方结构T2相存在;相反,在较低温度下沉积时多出现六方结构的σ-Nb5Ge3相。
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在模扳的背面喷金作为催化剂,660C的温度下生长的Ge纳米线是一种多晶结构,同时包含四方晶系和立方晶系,但以四方晶系为主。
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x增加,反铁电四方相的晶轴比a/c和晶胞体积减小,结果是扩大了可以发生电场诱导反铁电-铁电相变的反铁电相区。
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这种作用可能主要是由于Nd掺杂引起体系局域结构畸变,低温四方相(LTT)结构畴比例增加并得以稳定引起的,说明LTT相利于静态电荷有序条纹的形成。
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Synthesis and Mechanism of Tetragonal Perovskite Structure PbTiO_3 by a Hydrothermal Route
四方相钙钛矿PbTiO3的水热合成及机理研究
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结果显示,这些薄膜均为具有四方相钙钛矿结构的多晶颗粒膜,没有明显的生长方向。
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X射线衍射证实,经700℃热处理后,膜呈现四方钙钛矿的单相结构。
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所得薄膜由平均粒径为25.9nm的具有四方相金红石结构的二氧化锡晶粒组成。
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First-principles study on tetragonal ferroelectric structure of PbFe_ ( 0.5) Nb_ ( 0.5) O_3
四方铁电体PbFe(0.5)Nb(0.5)O3精细结构的第一性原理研究
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采用氨气还原氮化法,在流动的氨气氛下原位反应生成氮化钛,同时保持四方相氧化锆含量和结构不变。
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并利用XRD、TEM等分析方法对所得的SnO2粉体进行了表征,XRD衍射峰显示为四方相金红石型SnO2,随温度升高,衍射峰宽度明显变窄,晶粒变大。
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XRD结果分析表明,Ca掺杂引起了样品晶体结构的转变,x≤0.15的样品为四方钙钛矿结构,而x>0.15的样品则为菱方钙钛矿相。
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X射线衍射分析表明该薄膜是四方金红石结构,且未发现任何Mn的化合物。其中只有5%的Mn掺杂样品结构有微小的斜方晶相出现。
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利用X-ray衍射仪进行物相分析,证明产品为四方晶系锐钛矿结构,用TEM观察样品形貌为无序介孔材料,可以很清楚地看到蠕虫状的无序孔道。
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分析表明:焙烧温度高于600℃时可形成单一四方相钙钛矿结构的PbTiO3纳米粉体,并且随热处理温度的升高,晶粒度增加。
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The general types of multiple solution in Patterson method for tetragonal system
四方晶系Patterson法多解的一般形式
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