随着集成电路(IC)技术的迅速发展,晶体管的特征尺寸已进入深亚微米、甚至超深亚微米(纳米)级。
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ASIC基于较老的(礼貌一点说是“成熟的”)处理方式,有效尺寸更大一些。
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随着大规模集成电路的推进和发展,集成度要求越来越高,特征尺寸急剧减小。
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光子晶体波导由于具有导光高效和尺寸微小等特性,使得基于它构建的光子学器件在光集成回路中有着广泛的应用前景。
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随着集成电路特征尺寸进入小尺寸量级,TCAD设计阶段中的参数提取及优化工作显得更为重要。
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可以通过采用更小特征尺寸,在保持最高截止频率不变的情况下,降低器件的功耗。
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and the dependence of low-energy neutron-induced seu cross section on sram's feature size was given.
研究结果表明:SRAM器件的特征尺寸越小,其对低能中子导致的单粒子翻转的敏感性越高。
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随着器件的集成度越来越高,要求器件的特征尺寸也在迅速减小,这对于器件内部互连线的材料提出了很高要求。
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当工艺特征尺寸减小到纳米的时候,芯片的速度和集成度不断提高。
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作为链接结构模型和底层电路实现与工艺的开放平台,多尺度模型能够依据不同的工艺标准以及结构参数对缓存的面积、延迟、功耗进行快捷而有效地估算。
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电源管理是电子系统不可或缺的一部分,随着工艺尺寸的不断缩小,片上系统的迅速发展,它也在朝着高集成化的方向发展。
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新材料、新结构、新器件不断涌现,特征尺寸继续缩小,摩尔定律仍然起作用。
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随着VLSI电路集成密度急剧增长及特征尺寸不断缩小,互连寄生参数提取已成为集成电路辅助设计中的一个研究热点.目前,三维互连寄生电容提取的研究得到广泛关注,并取得了很大进展。
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analysis to the relationship of feature size, objects scales, image resolution
地物大小、对象尺度、影像分辨率的关系分析
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study on correlation of loose aquifer feature size and electric logging parameters
松散含水层特征粒径与电性测井参数的相关性研究
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based on the consideration of feature size, the design concept of ridges and meshes was suggested.
提出了基于最小特征尺寸考虑的脊基和隙空的设计概念。
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本文主要研究分析了刻蚀产生的线宽与激光功率、加工速度、扫描次数、显微物镜数值孔径之间的关系。
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随着CMOS工艺特征尺寸的不断缩减,已经有可能利用CMOS设计Gbps速率等级的电路。
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