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介绍了一种用棱镜耦合法测量吸收性薄膜波导参数的一种方法,它是由测得棱镜底部反射光斑中模的吸收线位置来确定薄膜的折射率和厚度。
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Introduction of Filter Effect of Thin Film Interference in College Physics Teaching
在大学物理教学中介绍薄膜干涉的滤波效应
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表面吸附原子和表面二聚体的扩散是薄膜表面物理领域研究的重点课题之一。
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它广泛地应用于薄膜物理、材料科学、环境科学等各个领域。本文基于背散射分析技术,对纳米晶固氦材料和电子碰撞原子内壳层电离截面实验研究中的一些问题进行了探讨。
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椭偏术是薄膜物理和表面科学的重要测量方法。
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讨论了磁光薄膜的基本特性,并用光学薄膜的设计技术研究了磁光效应的干涉增强。
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运用中试过程筛选CD&R染料,并应用流体力学、薄膜光学、光谱化学对染料工艺进行分析。
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运用薄膜光学的理论基础&Fresnel公式,研究光在界面上的位相关系。
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本文结出的薄膜光学为基础的数字模拟和初步实验结果。
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对于垂直各向异性的薄膜,磁力显微镜图直接给出了它的磁畴结构图,杂散场垂直于膜面的分量给出了它的磁畴和畴壁位置。
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p-nitrobenzonitrile纳米有机薄膜的超高密度信息存储研究
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Residual stress measurement of porous silicon thin film by substrate curvature method
基片曲率法在多孔硅薄膜残余应力检测中的应用
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Determination of absorption-free optical thin film parameters by algebraic method
代数法确定无吸收光学薄膜的参数
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采用SODA&LIME玻璃、水热法制备的压电薄膜和浇注成型的PDMS盖片,通过光刻、显影和除铬、湿法刻蚀、掩蔽层去除等微加工工艺,制作了无阀压电微泵。
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Hi-B钢最新技术涉及诸多方面,本文对开发高温退火隔离剂,改善最终高温退火工艺,无铬薄膜的形成方法,改善薄膜质量进行了分析、研究,以供借鉴。
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首先,改进了用溶胶-凝胶法制备PZT压电薄膜的热处理工艺,提高了压电薄膜的压电性能,同时对制备的PZT压电薄膜进行了性能表征分析。
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通过简单叙述Ⅲ族GaN基氮化物薄膜,以及了解半导体薄膜生长系统的温度变化情况重要性,提出了基于双热电偶校准薄膜生长装置ECR-PEMOCVD温度的方法。
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